Новый метод микроскопии преодолевает предел разрешения оптических микроскопов

Новый метод микроскопии от учёных Университета Мартина Лютера и Института физики микроструктур общества Макса Планка

Учёные из Университета Мартина Лютера в Галле-Виттенберге и Института физики микроструктур общества Макса Планка разработали новый метод микроскопии, который позволяет преодолеть предел разрешения оптических микроскопов.

Методика основана на аномальном эффекте Нернста и использовании специального наноразмерного металлического наконечника зонда микроскопа. Благодаря этому, исследователи могут получать изображения с разрешением около 70 нанометров.

Новая методика может использоваться для визуализации магнитных структур в нанометровом масштабе, включая хиральные антиферромагнитные материалы. Это открывает новые возможности для исследований в области спинтроники, квантовой электроники и сенсорики.

В статье, опубликованной в журнале ACS Nano, исследователи демонстрируют изображения магнитной вихревой структуры, полученные с помощью новой методики. Это позволяет закрыть пробел в исследованиях, связанных с изучением внеплоскостной поляризации, и демонстрирует надёжность метода ANE для визуализации магнитных структур.